High low temperature test box-詳細(xì)資料報(bào)價(jià)歡迎垂詢

一、High low temperature test box適用范圍：

用于國防工業(yè)，航天工業(yè)自動(dòng)化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒、耐干性能及研發(fā)，質(zhì)量管理工程之試驗(yàn)規(guī)范。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)。A：低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》.

三、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A

5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B. GB/T2423.34-2005高、低、溫度組合循環(huán)試驗(yàn)。

四、規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：

ZT-CTH-80L，  ZT-CTH-120L

ZT-CTH-150L， ZT-CTH-225L

ZT-CTH-306L， ZT-CTH-408L

ZT-CTH-800L， ZT-CTH-1000L

1.溫度范圍 ： -20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-85℃~+150℃(溫度范圍可選）。
2.控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃
3.分布均勻度 ：±1.5℃
4.正常升溫時(shí)間 ：+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。
5.正常降溫時(shí)間： +20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/+20~-50℃小于

  65分鐘. +20~-60℃小于70分鐘/+20~-70℃小于75分鐘/20~-85℃小于100分鐘

  非線性空載.

五、High low temperature test box結(jié)構(gòu)：整體結(jié)構(gòu)為體式，降溫冷凍系統(tǒng)與箱體分開。

1.內(nèi)箱材質(zhì)：SUS 304# 鏡面不銹鋼板
2.外箱材質(zhì)：SUS 304#不銹鋼板/特殊防銹處理冷軋板噴塑烤漆（電腦白色）

六、工作內(nèi)尺寸： 　
ZT-CTH-80L　 W寬40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120L　 W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150L　 W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225L　 W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306L　 W寬60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408L　 W寬60XH高85XD深80cm

ZT-CTH-800L　 W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000L　 W寬100XH高100XD深100cm

七、High low temperature test box控制器：

采用彩色型5.7寸或10.4寸進(jìn)口微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按鍵型，中英文表示及320×240點(diǎn)的圖形之廣視角，高對(duì)比附可調(diào)背光功能之溫濕度同時(shí)可程控器，具100組程序1000段次記憶，每段99Hour59Min，每段可循環(huán)999次，可任意分割設(shè)定，并附多組PID控制功能。